在上一期《名家專欄》中，我們初探超寬帶極紫外光源在半導體量檢測中的應用，從先進高端芯片制造需求入手，對相干X射線衍射成像技術(shù)的原理及在半導體領(lǐng)域應用做了重點分享，本期將介紹基于超寬帶極紫外工藝的散射測量技術(shù)的應用情況。

鈣鈦礦太陽能電池因其可調(diào)節(jié)的帶隙和卓越的光電性能而備受關(guān)注。然而，p-i-n結(jié)構(gòu)的鈣鈦礦太陽能電池效率低于n-i-p結(jié)構(gòu)，主要受限于表面少數(shù)載流子的深能級陷阱。

在前兩個專題中我們講述了光色測量原理，顯示技術(shù)的發(fā)展歷史和未來發(fā)展，這次我們再來簡單討論一下傳統(tǒng)顯示技術(shù)的光色測量手段。