PCT（Pressure Cooker Test）高壓加速老化試驗(yàn)主要用于評(píng)估電子產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的可靠性。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試材料瞬間極高溫至極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在*短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。

使用 PCT 老化試驗(yàn)箱對(duì)光伏組件進(jìn)行測(cè)試，旨在模擬光伏組件在高溫、高濕及高壓環(huán)境下的長(zhǎng)期使用情況，以評(píng)估其可靠性、耐久性和性能穩(wěn)定性。

PCT（壓力–溫度–濕度）老化試驗(yàn)是評(píng)估電子組件及材料在高溫、高濕和壓力環(huán)境下性能穩(wěn)定性的重要測(cè)試方法。

主要用于模擬材料在高溫、高壓、高濕環(huán)境下性能運(yùn)行可靠性的專(zhuān)用試驗(yàn)箱，老化箱內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì),復(fù)合國(guó)家安全容器標(biāo)準(zhǔn),適用于國(guó)防材料、航天材料、電子零配件、半導(dǎo)體、線路板等行業(yè)。

快速溫變變化老化試驗(yàn)箱是一種常用于電子、汽車(chē)、航空航天等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，用于模擬極端溫度環(huán)境下的物品在長(zhǎng)期使用過(guò)程中的可靠性和穩(wěn)定性。為了達(dá)到預(yù)期的測(cè)試效果，設(shè)置溫度變化速率至關(guān)重要。

溫度老化測(cè)試機(jī)是一種用于測(cè)試電子元器件和產(chǎn)品在不同溫度條件下的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的設(shè)備。它可以模擬各種不同的環(huán)境溫度，如高溫、低溫、濕熱等，以模擬真實(shí)的工作條件。

HAST加速壽命試驗(yàn)箱是一種用于評(píng)估產(chǎn)品在極端環(huán)境條件下的可靠性和耐久性的測(cè)試設(shè)備。